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Through many customers’ projects, our experience covers the following areas of Design for Testability. |
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| Design for Testability (DFT) |
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BIST, BISD, and BISR for testing the embedded memory |
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| blocks |
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| JTAG controller for debugging the boundaries and for |
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| debugging the software |
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For further information and a confidential discussion please contact info@wichiptech.com | ||||||||||||||||
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